固态硬盘的读写掉电测试一般都是在同一温度（低温或者高温）下进行的，主要检验测试产品贮存和使用的适用性。NVMe固态硬盘内部担任储存数据的重要组件是NAND闪存，影响NAND闪存的数据保存，除了擦写次数，工作时候的温度也可以直接对固态硬盘的速度和数据保存造成影响。下面，我们来了解一下固态硬盘的高低温擦写试验。
步骤1、通过硬盘检测工具SMART(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology)进行仔细的检测，测试结果为通过，则说明固态硬盘健康状态良好，如果显示不良，则表示固态硬盘出现异常状况。
步骤2、在高温的温度范围为35~125℃下，往被测NVMe固态硬盘中写入预设数据；
步骤5、检查被测NVMe固态硬盘的健康状态是不是良好，如果良好，则执行步骤6，否则结束测试；
步骤6、在-40~0℃下，对被测NVMe固态硬盘执行读取比对操作；读取比对操作包括：首先顺序读出已写入的数据，并与预设数据来进行比较；然后随机选择一个预设数据的随机地址并在此地址读数据块，再到已写入的数据中找到其所在的位置，进行读比对。
步骤8、检查被测NVMe固态硬盘的健康状态是不是良好，如果良好，则执行步骤9，否则结束测试；
通过以上高低温擦写测试，一种原因是模拟客户在极端环境下，来检测产品的稳定性和数据安全性能；另一方面能够为产品迅速找出极限点，并从所提供的详细测试报告中改善产品弱点。
入有SSD固态硬盘的试验疑问，可以访问“环仪仪器”官网，咨询有关技术人员。
